紫外可見分光光度計(jì)

簡要描述：

UV2800上海恒平紫外可見分光光度計(jì)為大屏幕掃描型雙光束紫外-可見分光光度計(jì)。全新的光學(xué)系統(tǒng)和電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。
UV2800上海恒平具有：高分辨率、低雜散光、持久穩(wěn)定性和高信噪比。
UV2800上海恒平可滿足用戶多層次的分析應(yīng)用需求。紫外-可見分光光度計(jì)計(jì)算機(jī)應(yīng)用軟件為您的儀器實(shí)現(xiàn)更加強(qiáng)大的功能。

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詳細(xì)介紹

UV2800上海恒平紫外可見分光光度計(jì)為大屏幕掃描型雙光束紫外-可見分光光度計(jì)。全新的光學(xué)系統(tǒng)和電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)確保儀器具有：高分辨率、低雜散光、持久穩(wěn)定性和高信噪比。可滿足用戶多層次的分析應(yīng)用需求。紫外-可見分光光度計(jì)計(jì)算機(jī)應(yīng)用軟件為您的儀器實(shí)現(xiàn)更加強(qiáng)大的功能。

UV2800上海恒平紫外可見分光光度計(jì)功能：大屏幕LCD，圖譜顯示。光度測量：定波長測試吸光度、透過率和濃度測量。光譜掃描：掃描速度可選，間隔可選（0.1、0.5、1、2、5nm），峰/谷自動(dòng)檢測，圖譜縮放等功能。定量測定：單波長法、一階線性標(biāo)準(zhǔn)曲線擬合，zui多可建立9個(gè)標(biāo)樣點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)曲線。動(dòng)力學(xué)測量（時(shí)間掃描）：對(duì)樣品進(jìn)行動(dòng)力學(xué)測試，測試間隔時(shí)間可選，可保存1800個(gè)測試數(shù)據(jù)點(diǎn)。

UV2800上海恒平特點(diǎn)：持久的穩(wěn)定性：雙光束光學(xué)系統(tǒng)，確保儀器長時(shí)間的穩(wěn)定。超低的雜散光：*光學(xué)系統(tǒng)、低噪聲的電路系統(tǒng)和優(yōu)質(zhì)的光學(xué)元器件保證儀器具有超低的雜散光。高濃度樣品測試更準(zhǔn)確。顯示操作人性化設(shè)計(jì)：大屏幕顯示器顯示數(shù)據(jù)、圖形、曲線，更直觀，用戶操作簡單方便。燈源更換簡單方便：法蘭盤座式氘燈結(jié)構(gòu)，更換氘燈無需工具，免去換燈時(shí)光路調(diào)試步驟，使儀器調(diào)試、維護(hù)更加簡單。豐富的可選附件：自動(dòng)比色架等多種附件可供選擇，儀器測量范圍更加廣泛。UV-Solution 3.0工作站軟件，具有各種測試、掃描功能（UV2800PC UV2800SPC）。

UV2800上海恒平技術(shù)參數(shù)特點(diǎn)：

型號(hào)	UV2800/UV2800PC	UV2800S/UV2800SPC
光學(xué)系統(tǒng)	雙光束	雙光束
光譜帶寬	1.8nm	0.5、1、1.8、4nm
波長范圍	190~1100nm	190~1100nm
波長準(zhǔn)確度	±0.3nm	±0.3nm
波長重復(fù)性	0.2nm	0.2nm
光度范圍	T:0~200.00%T A:-0.301~3.0000Abs C:0~9999	T:0~200.00%T A:-0.301~3.0000Abs C:0~9999
光度準(zhǔn)確度	±0.3%T	±0.3%T
光度重復(fù)性	0.1%T	0.1%T
雜散光	≤0.05%T（220nm和340nm處）	≤0.05%T（220nm和340nm處）
基線直線性	±0.001A	±0.001A
基線漂移	0.0005A/h（500nm處）	0.0005A/h（500nm處）
噪聲	100%（T）線噪聲≤0.1%（T） 0%（T）線噪聲≤0.05%（T）	100%（T）線噪聲≤0.1%（T） 0%（T）線噪聲≤0.05%（T）
顯示器	320×240大屏幕LCD（6英寸）	320×240大屏幕LCD（6英寸）